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便攜式電阻率測試儀庫號：M415894便攜式電阻率測試儀庫號：M415894
便攜式電阻率測試儀是用來測量硅晶塊、晶片的電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導體材料電阻率的標準測試方法有關規定設計。它主要由電器測量部份（主機）及四探針頭組成，需要時可加配測試架
技術指標
（1）測量范圍：
可測量電阻率：0.01～199.9Ω·cm
可測方塊電阻： 0.1～1999Ω/□
當被測材料電阻率≥200Ω·cm數字表顯示0.00
（2）恒流源：
輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔
1mA量程：0.1～1mA 連續可調
10mA量程：1mA ～10
恒流精度：各檔均大于±0.1%
（3）直流數字電壓表
測量范圍：0～199.9mv
靈敏度：100μV
準確度：0.2%（±2個字）
（4）供電電源：
AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W
（5）使用環境：
相對濕度≤80%
（6）重量、體積
重量：2.2Kg
體積：寬210×高100×深240（mm）
便攜式電阻率測試儀是用來測量硅晶塊、晶片的電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導體材料電阻率的標準測試方法有關規定設計。它主要由電器測量部份（主機）及四探針頭組成，需要時可加配測試架
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